徕卡半导体检测显微镜DM12000M

徕卡DM12000M
产品简介：徕卡半导体检测显微镜DM12000M，可实现大型12寸晶圆观察，常规金相材料、电子元器件、LCD、粉尘颗粒等样品观察分析。可配接Leica摄像头，热台等配件。
徕卡半导体检测显微镜DM12000M，可实现大型12寸晶圆观察，常规金相材料、电子元器件、LCD、粉尘颗粒等样品观察分析。可配接Leica摄像头，热台等配件。
徕卡DM12000M
DM12000M高级智能数字式正置显微镜，适合晶圆、电子元器件、金属、陶瓷、高分子材料、粉尘颗粒等样品观察分析，多种安全设计，保护晶圆，镜头及观察者。
晶圆检测显微镜采用模块设计，可实现反射观察、透射观察配置
复消色差光路，整体支持25mm视野直径
可选配UV光源，提高观察分辨率至亚微米机构，UV由大功率LED产生，具有UV和OUV功能
12x12大样品台，可观察晶圆，LCD等大尺寸样品
6孔位电动物镜转盘，配接32mm直径长工作距离工业物镜
内置电动或手动调焦系统
*有0.7x宏光物镜，具有宏光晶圆检查功能
徕卡DM12000M结构图
徕卡金相半导体显微镜DM12000M结构图
产品特点 Infocation
四倍视野
宏观放大功能，使您可以比传统扫描物镜多看四倍以上的视野。

四倍视野
人体工学设计
非常适合长时间在显微镜上工作,直观操作适应任何程度的使用者。

四倍视野
极限分辨率
全新的倾斜紫外模式(OUV) 在紫外光基础上结合了倾斜光设计理念，确保您可以从任何角度都得到可见物理光学的极限分辨率。

四倍视野